ICE Asia 2014明日盛大开幕，决不容错过！
2014-09-16 10:05:00.0 来源：cpp114 责编：徐赳赳
- 摘要：
- ICEAsia2014第四届国际纸品胶片薄膜加工印刷技术、设备及材料博览会将于明日盛大开幕，展会持续三天（9月17日至9月19日），届时将有来自涂布、复合、分切、复卷和凹柔版印刷技术领域的顶尖展商展示他们的得意之作。
【CPP114】讯：ICE Asia 2014第四届国际纸品胶片薄膜加工印刷技术、设备及材料博览会将于明日盛大开幕，展会持续三天（9月17日至9月19日），届时将有来自涂布、复合、分切、复卷和凹柔版印刷技术领域的顶尖展商展示他们的得意之作。
本届ICE Asia 2014，展商Sensory Analytics将会第一次带来革新的Spec Metrix涂布测厚、涂料侧重系统。Spec Metrix系统包括在线薄膜、涂层厚度检测；Spec Metrix实验系统可以针对实验样本和终端产品做非接触式的实时测厚监控。与多数的光学检测设备不同，spec Metrix系统的处理对象不但可以针对透明产品，对非透明产品也同样适用，其涂层检测厚度范围为200纳米至250微米。Spec Metrix系统旨在为客户提供高效精准的实时检测数据，该系统的检测部不使用放射性射线和X射线，从而免去了客户额外的行政监管成本及负担。
与此同时，展会现场的买家见面会和上海有机及印刷电子论坛，将有数十场精彩演讲轮番上演。包括KROENERT带来“印刷或涂布——印刷电子技术的何去何从？”；九州浩德“带来涂布技术简介”；申克博士带来“最佳投资回报和零缺陷的视觉检测系统”；汕头华鹰带来“功能性涂层加工设备——设备功能化、部件模块化、核心技术差异化”；博斯特带来“印刷电子领域薄膜的网版处理及控制”等等，欢迎您莅临现场。
本届ICE Asia 2014，展商Sensory Analytics将会第一次带来革新的Spec Metrix涂布测厚、涂料侧重系统。Spec Metrix系统包括在线薄膜、涂层厚度检测；Spec Metrix实验系统可以针对实验样本和终端产品做非接触式的实时测厚监控。与多数的光学检测设备不同，spec Metrix系统的处理对象不但可以针对透明产品，对非透明产品也同样适用，其涂层检测厚度范围为200纳米至250微米。Spec Metrix系统旨在为客户提供高效精准的实时检测数据，该系统的检测部不使用放射性射线和X射线，从而免去了客户额外的行政监管成本及负担。
与此同时，展会现场的买家见面会和上海有机及印刷电子论坛，将有数十场精彩演讲轮番上演。包括KROENERT带来“印刷或涂布——印刷电子技术的何去何从？”；九州浩德“带来涂布技术简介”；申克博士带来“最佳投资回报和零缺陷的视觉检测系统”；汕头华鹰带来“功能性涂层加工设备——设备功能化、部件模块化、核心技术差异化”；博斯特带来“印刷电子领域薄膜的网版处理及控制”等等，欢迎您莅临现场。
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